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雷達物位計是一種利用雷達技術進行非接觸式測量的儀器，主要用于測量儲罐、容器、或開放水域中的液位、固體料位等。其工作原理基于雷達波的發(fā)射與接收。非接觸測量：避免了與介質的直接接觸，適用于腐蝕性、高溫、高壓或易結晶的介質。雷達物位計高精度：測量精度高，可達毫米級，且不受介質特性（如密度、粘度、介電常數）變化的影響。
一、產品原理
雷達物位天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經天線向下傳輸。微波接觸到被測介質表面后被反射回來再次被天線系統(tǒng)接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉換成物位信號（因為微波傳播速度極快，電磁波到達目標并經反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是瞬間的）。
二、技術參數
應 用：固體料、強粉塵、易結晶、 結露場合
測量范圍：30米
過程連接：萬向法蘭
介質溫度：-40～250℃
過程壓力：-0.1～0.1MPa
精 度：±15mm
防護等級：IP67
頻率范圍：26GHz
防爆等級：Exia ⅡC T6 Ga/Exd ia IIC T6 Gb
信號輸出：4...20mA/HART(兩線/四線)，RS485/Mod bus
三、產品特點
天線尺寸小，便于安裝；非接觸雷達，無磨損，無污染。
幾乎不受腐蝕、泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。
嚴重粉塵環(huán)境對高頻物位計工作影響不大。
波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射。
波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時又有利于避開干擾物。
測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良好的效果。
高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。
高頻率，是測量固體和低介電常數介質的好選擇。
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